| 主要特點 | 可嚴格控制被磨樣品表面的平行度和平面度，控制準確度高。研磨過程中可搭配數顯測厚儀使用，隨時觀測樣品磨削量，尤其適用于表面平行度和平面度及樣品厚度要求高的樣品研磨使用。 |
| 技術參數 | 1、載樣盤直徑：?52mm 2、載樣盤軸向行程：10mm（分度螺母移動一格，載樣盤軸向移動0.025mm） 3、數顯表精度：0.001mm 4、載樣盤部分空載壓力：500g 5、承載樣件尺寸：直徑≤50mm、厚度≤10mm |
| 產品規格 | 尺寸：外徑89mm，高154mm |
| 標準配件 | 配重砝碼（共400g） |
| 可選配件 | 配重塊（25g、50g） |
薄合金樣品可以用GPC-磨拋控制儀協助拋光處理，使薄片樣品厚度偏差小于0.01mm
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顯示0.244mm | 顯示0.241mm | 顯示0.237mm | 顯示0.239mm |
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皖公網安備 34012302000974號
